To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/21393

Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Guillen, Oscar M.; Sigl, Georg
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
-Integrated circuits -- Testing
-Digital electronics -- Testing
-security
-testability
-scan path
-attack
-BILBO
-Circuits integrats -- Proves
-Electrònica digital -- Proves
Article - Published version
Conference Object
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Wieser, Wolfgang; Lupón Roses, Emilio; Sigl, Georg; Manich Bou, Salvador
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
 

Coordination

 

Supporters