Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/21004
Título: | A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry |
---|---|
Autor/a: | Azcona Guerrero, Francisco Javier; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Méndez Astudillo, Jorge; Jha, Ajit |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Optoelectrònica -Interferometry -Detectors -Nanoelectronics -Laser sensors -nanodisplacement sensing -optical feedback interferometry -optical metrology -Interferometria -Detectors -Nanoelectrònica |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
Compartir: |