Título:
|
Analog circuit test based on a digital signature
|
Autor/a:
|
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Abstract:
|
Production verification of analog circuit specifica-
tions is a challenging task requiring expensive test equipment
and time consuming procedures. This paper presents a method
for low cost on-chip parameter verification based on the analysis
of a digital signature. A 65 nm CMOS on-chip monitor is
proposed and validated in practice. The monitor composes two
signals (x(t), y(t)) and divides the X-Y plane with nonlinear
boundaries in order to generate a digital code for every analog
(x, y) location. A digital signature is obtained using the digital
code and its time duration. A metric defining a discrepancy factor
is used to verify circuit parameters. The method is applied to
detect possible deviations in the natural frequency of a Biquad
filter. Simulated and experimental results show the possibilities
of the proposal. |
Abstract:
|
Peer Reviewed |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Seguretat informàtica::Criptografia -Monitoring -Digital signatures -Linear integrated circuits -Monitoratge -Signatures electròniques -Circuits integrats lineals |
Derechos:
|
|
Tipo de documento:
|
Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia |
Compartir:
|
|