Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/20392
Títol: | Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies |
---|---|
Autor/a: | Amat Bertran, Esteve; Amatlle, E.; Gómez González, Sergio; Aymerich Capdevila, Nivard; García Almudéver, Carmen; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica -Computer storage devices -Memory management (Computer science) -6T-SRAM -Degradation -Regular layout -Variability -Memòries digitals -Ordinadors -- Dispositius de memòria -Gestió de memòria (Informàtica) |
Drets: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió publicada Article |
Compartir: |