Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20052
Título: | An ROBDD-based combinatorial method for the evaluation of yield of defect-tolerant systems-on-chip |
---|---|
Autor/a: | Carrasco, Juan A.; Suñé, Víctor |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica -Combinatorial analysis -Anàlisi combinatòria |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
Compartir: |