To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/19895
Title: | Optical and compositional characterization of GaAs(Ti) thin films deposited by R.F. magnetron sputtering |
---|---|
Author: | Boronat, Artur; Silvestre Bergés, Santiago; Castañer Muñoz, Luis María |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica -Solar cells -GaAs(Ti) -Intermediate band (IB) -Sputtering -Cèl·lules solars |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Article |
Share: |