To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/18334

One-shot focusing using the entropy as a merit function;
Modeling, Systems Engineering, and Project Management for Astronomy V
Suc, Vicent; Royo Royo, Santiago; Jordan, Andres; Bakos, G.; Penev, K.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Àrees temàtiques de la UPC::Física::Astronomia i astrofísica
-Metrology
-Detectors
-Optics, Adaptive
-Telescopes
-Entropy
-Metrologia
-Detectors òptics
-Telescopis
-Entropia
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Published version
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Royo Royo, Santiago; Arasa Marti, Jose; Ares Rodríguez, Miguel; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Caum Aregay, Jesús; Riu Gras, Jordi; Sergievskaya, Irina; Suc, Vicent
Suc, Vincent; Ropert, Samuel; Jordan, Andres; Royo Royo, Santiago
Ropert, Samuel; Suc, Vincent; Jordan, Andres; Tala, Marcelo; Liedtke, Philip; Royo Royo, Santiago
Delpueyo Español, Xana; Vilaseca Ricart, Meritxell; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel; Sanàbria Ortega, Ferran; Herrera Ramírez, Jorge Alexis; Burgos Fernández, Francisco Javier; Pujol Ramo, Jaume; Puig, Susana; Pellacani, Giovanni; Vázquez, Jorge; Solomita, Giuseppe; Bosch, Thierry
Rey Barroso, Laura; Burgos Fernández, Francisco Javier; Delpueyo Español, Xana; Ares Rodríguez, Miguel; Royo Royo, Santiago; Malvehy Guilera, José; Puig, Susana; Vilaseca Ricart, Meritxell
 

Coordination

 

Supporters