Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32147

Advanced applications of scanning electron microscopy in geology
García Veigas, Francisco Javier; Prats Miralles, Eva; Domínguez Ximénez, Anna; Villuendas Latorre, Aránzazu
Universitat de Barcelona
28-09-2012
-Microscòpia electrònica d'escombratge
-Geologia
-Anàlisi instrumental
-Scanning electron microscopy
-Geology
-Instrumental analysis
(c) Universitat de Barcelona, 2012
Capítulo o parte de libro
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Cuevas Müller, Carles de las; Miralles, L. (Luis).; Teixidor, P.; García Veigas, Francisco Javier; Pueyo Mur, Juan José
Villuendas Latorre, Aránzazu; Jorba, Jordi; Roca, Antoni (Roca Vallmajor)
Roca, Antoni (Roca Vallmajor); Villuendas Latorre, Aránzazu; Mejía, Ignacio; Benito, José A.; Llorca i Isern, Núria; Llumà, Jordi; Jorba, Jordi