Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11966

Título:	Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
Autor/a:	Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
Abstract:	Peer Reviewed
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronic engineering -Enginyeria electrònica -- Congressos
Derechos:	Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Tipo de documento:	Artículo - Versión presentada Objeto de conferencia
Editor:	IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Compartir:

Mostrar el registro completo del ítem